Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/1015
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorРомака, Любов Петрівна-
dc.contributor.authorКрайовський, Володимир Ярославович-
dc.contributor.authorСтадник, Юрій Володимирович-
dc.contributor.authorРогль, Петер-Франц-
dc.contributor.authorГоринь, Андрій Маркіянович-
dc.date.accessioned2019-12-09T13:24:00Z-
dc.date.available2019-12-09T13:24:00Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationРомака Л. П. Дослідження особливостей кристалічної та електронної структур напівпровідникового твердого розчину Hf1-xTmxNiSn / Л. П. Ромака, В. Я. Крайовський, Ю. В. Стадник, П.-Ф. Рогль, А. М. Горинь // Фізика і хімія твердого тіла. - 2016. - Т. 17. - № 2. - С. 212-221.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/1015-
dc.description.abstractДосліджено особливості структурних, енергетичних, термодинамічних та кінетичних характеристик твердого розчину Hf1-xTmxNiSn у діапазоні: Т = 80 - 400 К, х = 0 – 0,40. Підтверджено невпорядкованість кристалічної структури сполуки HfNiSn як результат зайняття атомами Ni (3d84s2) до ~1 % кристалографічної позиції 4а атомів Hf (5d26s2), що генерує у кристалі структурні дефекти донорної природи. Показано, що уведення атомів Tm упорядковує кристалічну структуру («заліковує» структурні дефекти). Виявлено механізми одночасного генерування структурних дефектів як акцепторної природи при заміщенні атомів Hf(5d26s2) атомами Tm (4f135d06s2), так і донорної як результат появи вакансій у позиції атомів Sn (4b), які визначають механізми електропровідності Hf1-xTmxNiSn.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"uk_UA
dc.subjectкристалічна і електронна структуриuk_UA
dc.subjectелектропровідністьuk_UA
dc.subjectкоефіцієнт термо-ерсuk_UA
dc.titleДослідження особливостей кристалічної та електронної структур напівпровідникового твердого розчину Hf1-xTmxNiSnuk_UA
dc.title.alternativeInvestigation of Crystal and Electronic Structures Features of Hf1-xTmxNiSn Semiconductor Solid Solutionuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 17, № 2
Т. 17, № 2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1322-5852-1-PB.pdf392.62 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.