Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/1015
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ромака, Любов Петрівна | - |
dc.contributor.author | Крайовський, Володимир Ярославович | - |
dc.contributor.author | Стадник, Юрій Володимирович | - |
dc.contributor.author | Рогль, Петер-Франц | - |
dc.contributor.author | Горинь, Андрій Маркіянович | - |
dc.date.accessioned | 2019-12-09T13:24:00Z | - |
dc.date.available | 2019-12-09T13:24:00Z | - |
dc.date.issued | 2016 | - |
dc.identifier.citation | Ромака Л. П. Дослідження особливостей кристалічної та електронної структур напівпровідникового твердого розчину Hf1-xTmxNiSn / Л. П. Ромака, В. Я. Крайовський, Ю. В. Стадник, П.-Ф. Рогль, А. М. Горинь // Фізика і хімія твердого тіла. - 2016. - Т. 17. - № 2. - С. 212-221. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/1015 | - |
dc.description.abstract | Досліджено особливості структурних, енергетичних, термодинамічних та кінетичних характеристик твердого розчину Hf1-xTmxNiSn у діапазоні: Т = 80 - 400 К, х = 0 – 0,40. Підтверджено невпорядкованість кристалічної структури сполуки HfNiSn як результат зайняття атомами Ni (3d84s2) до ~1 % кристалографічної позиції 4а атомів Hf (5d26s2), що генерує у кристалі структурні дефекти донорної природи. Показано, що уведення атомів Tm упорядковує кристалічну структуру («заліковує» структурні дефекти). Виявлено механізми одночасного генерування структурних дефектів як акцепторної природи при заміщенні атомів Hf(5d26s2) атомами Tm (4f135d06s2), так і донорної як результат появи вакансій у позиції атомів Sn (4b), які визначають механізми електропровідності Hf1-xTmxNiSn. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | кристалічна і електронна структури | uk_UA |
dc.subject | електропровідність | uk_UA |
dc.subject | коефіцієнт термо-ерс | uk_UA |
dc.title | Дослідження особливостей кристалічної та електронної структур напівпровідникового твердого розчину Hf1-xTmxNiSn | uk_UA |
dc.title.alternative | Investigation of Crystal and Electronic Structures Features of Hf1-xTmxNiSn Semiconductor Solid Solution | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Т. 17, № 2 Т. 17, № 2 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1322-5852-1-PB.pdf | 392.62 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.