Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/10831
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДзундза, Богдан Степанович-
dc.contributor.authorЯворський, Ярослав Святославович-
dc.contributor.authorТкачук, Андрій Іванович-
dc.contributor.authorБандура, Ю. В.-
dc.date.accessioned2021-09-07T12:58:29Z-
dc.date.available2021-09-07T12:58:29Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationДзундза Б. С. Вплив міжфазних меж на розсіювання носіїв струму у легованих вісмутом плівках телуриду свинцю / Б. С. Дзундза, Я. С. Яворський, А. І. Ткачук, Ю. В. Бандура // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 2. - С. 447-449.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/10831-
dc.description.abstractДосліджено вплив міжфазних меж на розсіювання носіїв струму у легованих вісмутом плівках телуриду свинцю, осадженого на ситалових підкладках від їх товщини. Встановлено, що домінуючу роль відіграє розсіювання на поверхні і міжзеренних межах, відносний внесок яких визначається температурою осадження.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"uk_UA
dc.subjectтелурид свинцюuk_UA
dc.subjectрозсіювання носіївuk_UA
dc.subjectрухливістьuk_UA
dc.subjectповерхняuk_UA
dc.titleВплив міжфазних меж на розсіювання носіїв струму у легованих вісмутом плівках телуриду свинцюuk_UA
dc.title.alternativeInfluence of Interfaces on the Scattering of Charge Carriersin Doped Bismuth Telluride Films Leaduk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 14, № 2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1402-20.pdf174.71 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.