Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/10840
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПуганцева, Олена Валеріївна-
dc.contributor.authorКрамар, Валерій Максимович-
dc.date.accessioned2021-09-15T08:33:21Z-
dc.date.available2021-09-15T08:33:21Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationПуганцева О. В. Температурні залежності енергії основного стану електрона в наноплівках E-MAA/PbI2/E-MAA / О. В. Пуганцева, В. М. Крамар // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 3. - С. 491-496.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/10840-
dc.description.abstractУ рамках наближення ефективних мас для електронної та моделі діелектричного континууму – для фононної систем запропоновано метод теоретичного дослідження температурної залежності енергії електрона в плоскій напівпровідниковій наноплівці шаруватого напівпровідника, уміщеній в органічне діелектричне середовище. Конкретні розрахунки виконані на прикладі дийодиду свинцю, як ямного матеріалу, та сополімеру етилен-метакрилової кислоти (E-MAA) – як бар’єрного. Показано, що збільшення температури наносистеми понад 50 – 75 K спричиняє зсув основного стану електрона у бік менших енергій. Величина зсуву – монотонно зростаюча функція температури, швидкість зростання якої залежить від товщини наноплівки.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"uk_UA
dc.subjectнаногетероструктураuk_UA
dc.subjectквантова ямаuk_UA
dc.subjectнаноплівкаuk_UA
dc.subjectелектронuk_UA
dc.subjectшаруватий напівпровідникuk_UA
dc.subjectдийодид свинцюuk_UA
dc.titleТемпературні залежності енергії основного стану електрона в наноплівках E-MAA/PbI2/E-MAAuk_UA
dc.title.alternativeTemperature Dependences Of The Electrons Ground State Energy In EMAA/PBI2/E-MAA NANOFILMSuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 14, № 3

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
!1403-05.pdf181.36 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.