Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/10869
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтецун, Аполлінарій Іванович-
dc.date.accessioned2021-09-17T07:17:48Z-
dc.date.available2021-09-17T07:17:48Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationСтецун А. І. Густина електронних станів аморфної плівки силіциду нікелю / А. І. Стецун // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 3. - С. 553-554.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/10869-
dc.description.abstractРозрахована густина електронних станів аморфної плівки силіциду нікелю. Для цього використовувались формули, одержані на основі теорії Нобелівського Лауреата Н. Мотта та Е. Девіса. Встановлено, що електронні стани в вершині валентної зони даного матеріалу обумовлені d - електронами нікелю, p - електронами кремнію та s - електронами нікелю.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"uk_UA
dc.subjectелектронні станиuk_UA
dc.subjectтонка плівкаuk_UA
dc.titleГустина електронних станів аморфної плівки силіциду нікелюuk_UA
dc.title.alternativeThe Density of Electron States of Nickel Silicide Amorphous Filmuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 14, № 3

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
!1403-16.pdf96.72 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.