Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/11175
Назва: | Процеси самоорганізації в тонкоплівкових As40Se60 наношарах при нормальних умовах та при дії лазерного опромінення |
Інші назви: | Self-Organization Processes in As40Se60 Thin Film Nanolayers Stored Under Ambient Conditions and Under Laser Irradiation |
Автори: | Кондрат, О. Б. Попович, Н. І. Голомб, Р. М. Петраченков, О. Є. Лямаєв, В. Цуд, Н. Міца, В. М. |
Ключові слова: | аморфна плівка лазерне опромінення структурні одиниці рентгенівська фотоелектронна спектроскопія |
Дата публікації: | 2013 |
Видавництво: | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" |
Бібліографічний опис: | Кондрат О. Б. Процеси самоорганізації в тонкоплівкових As40Se60 наношарах при нормальних умовах та при дії лазерного опромінення / О. Б. Кондрат, Н. І. Попович, Р. М. Голомб, О. Є. Петраченков, В. Лямаєв, Н. Цуд, В. М. Міца // Фізика і хімія твердого тіла. - 2013. - Т. 14. - № 4. - С. 800-804. |
Короткий огляд (реферат): | Методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії досліджена структура ближнього порядку приповерхневих наношарів тонких плівок а-As40Se60 при нормальних умовах та її зміни під дією лазерного опромінення з енергією фотонів, близькою до ширини забороненої зони. Проаналізовані форма і енергетичне положення фотоемісійних піків As 3d та Se 3d аморфних та опромінених лазером плівкок аAs40Se60. Виявлені і описані відмінності у інтенсивності компонент піків, стимульовані лазерним опроміненням. Розраховані відносні вклади атомів As і Se в As 3d та Se 3d спектри, їх структурна природа і обчислена композиція поверхневих наношарів. Запропонована атомарна модель, що описує стимульовані процеси самоорганізації в поверхневих наношарах плівок As40Se60. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/11175 |
Розташовується у зібраннях: | Т. 14, № 4 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
!1404-19.pdf | 192.55 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.