Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/13355
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Генцарь, Петро Олексійович | - |
dc.contributor.author | Власенко, Олександр Іванович | - |
dc.contributor.author | Вуйчик, Микола В'ячеславович | - |
dc.contributor.author | Заяць, Микола Сергійович | - |
dc.contributor.author | Киселюк, М. П. | - |
dc.contributor.author | Криськов, Цезарій Андрійович | - |
dc.contributor.author | Кругленко, Іванна Василівна | - |
dc.contributor.author | Свєженцова, Катерина Віталіївна | - |
dc.date.accessioned | 2022-11-14T10:47:19Z | - |
dc.date.available | 2022-11-14T10:47:19Z | - |
dc.date.issued | 2012 | - |
dc.identifier.citation | Генцарь П. О. Морфологічні та оптичні дослідження тонких плівок InSe/n-Si / П. О. Генцарь, О. І. Власенко, М. В. Вуйчик, М. С. Заяць, М. П. Киселюк, Ц. А. Криськов, І. В. Кругленко, К. В. Свєженцова // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13. - № 1. - С. 59-63. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/13355 | - |
dc.description.abstract | В даній роботі представлені результати досліджень впливу кристалографічної орієнтації поверхні підкладки на морфологічні та оптичні властивості тонких плівок InSe. Плівки товщиною 15 та 45 нм були вирощені методом газофазної епітаксії на поверхні монокристалічного кремнію з кристалографічними орієнтаціями {100} та {111}. Методом атомно-силової мікроскопії встановлено, що вирощені плівки характеризуються невпорядкованою зернистою структурою, розмір зерна яких збільшується при збільшенні товщини плівки. Оптичні дослідження показали, що при такій товщині плівок їх фізичні параметри є параметрами характерними для аморфних плівок. | uk_UA |
dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
dc.publisher | ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника" | uk_UA |
dc.subject | епітаксія | uk_UA |
dc.subject | еліпсометрія | uk_UA |
dc.subject | оптичне відбивання | uk_UA |
dc.subject | атомно-силова мікроскопія | uk_UA |
dc.title | Морфологічні та оптичні дослідження тонких плівок InSe/n-Si | uk_UA |
dc.title.alternative | Morphological and Optical Study of InSe/n-Si Thin Films | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Т. 13, № 1 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
!1301-09.pdf | 474.82 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.