Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/15295
Title: Аналіз дефектної структури іонно-імплантованих шарів монокристалічних матеріалів
Other Titles: Analysis of the Defect Structure of Ion-Implanted Single Crystal Layers
Authors: Остафійчук, Богдан Костянтинович
Яремій, Іван Петрович
Яремій, Софія Іванівна
Томин, Уляна Олексіївна
Уманців М. М.
Keywords: іонна імплантація
профіль деформації
аморфізація
Issue Date: 2012
Publisher: ДНВЗ "Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника"
Citation: Остафійчук Б. К. Аналіз дефектної структури іонно-імплантованих шарів монокристалічних матеріалів / Б. К. Остафійчук, І. П. Яремій, С. І. Яремій, У. О.Томин, М. М. Уманців // Фізика і хімія твердого тіла. - 2012. - Т. 13. - № 4. - С. 883-889.
Abstract: Запропоновано методику визначення параметрів дефектів у іонно-імплантованих шарах монокристалів, КДВ яких мають додаткову осциляційну структуру протяжністю до кількох градусів. Виявлено найбільш чутливі до дефектів ділянки кривих дифракційного відбивання та показано, що використання відбивань з малими і великими значеннями статичного фактора Дебая-Валлера дає можливість однозначно визначити тип та характеристики дефектів у порушеному шарі.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/15295
Appears in Collections:Т. 13, № 4

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
1304-06.pdf293.69 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.