Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/20557
Title: Аналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпечення
Other Titles: Analysis X-ray diffractograms from near-surface layers of monocrystals: development of models, algorithms and software
Authors: Яремій, Іван Петрович
Яремій, Софія Іванівна
Власій, Олеся Орестівна
Векерик, Д. В.
Томин, Я. І.
Keywords: комп'ютерне моделювання
рентгенівська дифракція
кристалічна структура
поверхневий шар
профілі деформації
крива гойдання
Issue Date: 2024
Publisher: Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника
Citation: Яремій І. П. Аналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпечення / І. П. Яремій, С. І. Яремій, О. О. Власій, Д. В. Векерик, Я. І. Томин // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 2. - С. 413-420.
Abstract: Запропоновано алгоритм аналізу двокристальних кривих дифракційного відбиваня від приповерхневих шарів монокристалів та розроблено відповідне програмне забезпечення. Враховано, що для отримання коректних результатів необхідно враховувати як когерентну так і дифузну складові розсіяння Х-променів. Передбачена можливість одночасного аналізу кривих дифракційного відбивання від кількох рефлексів. Для наближення експериментальних кривих дифракційного відбивання теоретичними використано підхід, який одночасно використовує три різні методи наближення. Ефективність запропонованого підходу підтверджуєься перевіркою отриманих результатів на однозначність.
URI: http://hdl.handle.net/123456789/20557
Appears in Collections:Т. 25, № 2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
26_Yaremiy(e).pdf934.18 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.