Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/20557
Назва: Аналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпечення
Інші назви: Analysis X-ray diffractograms from near-surface layers of monocrystals: development of models, algorithms and software
Автори: Яремій, Іван Петрович
Яремій, Софія Іванівна
Власій, Олеся Орестівна
Векерик, Д. В.
Томин, Я. І.
Ключові слова: комп'ютерне моделювання
рентгенівська дифракція
кристалічна структура
поверхневий шар
профілі деформації
крива гойдання
Дата публікації: 2024
Видавництво: Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника
Бібліографічний опис: Яремій І. П. Аналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпечення / І. П. Яремій, С. І. Яремій, О. О. Власій, Д. В. Векерик, Я. І. Томин // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 2. - С. 413-420.
Короткий огляд (реферат): Запропоновано алгоритм аналізу двокристальних кривих дифракційного відбиваня від приповерхневих шарів монокристалів та розроблено відповідне програмне забезпечення. Враховано, що для отримання коректних результатів необхідно враховувати як когерентну так і дифузну складові розсіяння Х-променів. Передбачена можливість одночасного аналізу кривих дифракційного відбивання від кількох рефлексів. Для наближення експериментальних кривих дифракційного відбивання теоретичними використано підхід, який одночасно використовує три різні методи наближення. Ефективність запропонованого підходу підтверджуєься перевіркою отриманих результатів на однозначність.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://hdl.handle.net/123456789/20557
Розташовується у зібраннях:Т. 25, № 2

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
26_Yaremiy(e).pdf934.18 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.