1. Precarpathian National University Repository
  2. Періодичні видання ПНУ
  3. Наукові журнали
  4. Фізика і хімія твердого тіла
  5. 2024
  6. Т. 25, № 2
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/123456789/20557
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЯремій, Іван Петрович-
dc.contributor.authorЯремій, Софія Іванівна-
dc.contributor.authorВласій, Олеся Орестівна-
dc.contributor.authorВекерик, Д. В.-
dc.contributor.authorТомин, Я. І.-
dc.date.accessioned2024-10-03T07:15:02Z-
dc.date.available2024-10-03T07:15:02Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationЯремій І. П. Аналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпечення / І. П. Яремій, С. І. Яремій, О. О. Власій, Д. В. Векерик, Я. І. Томин // Фізика і хімія твердого тіла. - 2024. - Т. 25. - № 2. - С. 413-420.uk_UA
dc.identifier.other10.15330/pcss.25.2.413-420-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/20557-
dc.description.abstractЗапропоновано алгоритм аналізу двокристальних кривих дифракційного відбиваня від приповерхневих шарів монокристалів та розроблено відповідне програмне забезпечення. Враховано, що для отримання коректних результатів необхідно враховувати як когерентну так і дифузну складові розсіяння Х-променів. Передбачена можливість одночасного аналізу кривих дифракційного відбивання від кількох рефлексів. Для наближення експериментальних кривих дифракційного відбивання теоретичними використано підхід, який одночасно використовує три різні методи наближення. Ефективність запропонованого підходу підтверджуєься перевіркою отриманих результатів на однозначність.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherПрикарпатський національний університет імені Василя Стефаникаuk_UA
dc.subjectкомп'ютерне моделюванняuk_UA
dc.subjectрентгенівська дифракціяuk_UA
dc.subjectкристалічна структураuk_UA
dc.subjectповерхневий шарuk_UA
dc.subjectпрофілі деформаціїuk_UA
dc.subjectкрива гойданняuk_UA
dc.titleАналіз Х-променевих дифрактограм від приповерхневих шарів монокристалів: розробка моделей, алгоритмів та програмного забезпеченняuk_UA
dc.title.alternativeAnalysis X-ray diffractograms from near-surface layers of monocrystals: development of models, algorithms and softwareuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Т. 25, № 2

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
26_Yaremiy(e).pdf934.18 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.