Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/123456789/4196
Title: | Локалізовані стани електронів у напівпровідниках. II. Експериментальні методи дослідження |
Authors: | Возняк, Орест Михайлович Фреїк, Дмитро Михайлович Паращук, Тарас Олексійович Чобанюк, Володимир Михайлович Горічок, Ігор Володимирович |
Keywords: | локалізовані стани, донорні рівні, акцепторні рівні, енергія йонізації дефектів |
Issue Date: | 2011 |
Citation: | Фреїк Д.М., Возняк О.М., Паращук Т.О., Чобанюк В.М., Горічок І.В. Локалізовані стани електронів у напівпровідниках. II. Експериментальні методи дослідження \\ ФІЗИКА І ХІМІЯ ТВЕРДОГО ТІЛА. -2011. - Т. 12, № 2. - С. 445-454. |
Abstract: | Представлено аналіз експериментальних методів визначення мілких і глибоких центрів у напівпровідникових кристалах. Особлива увага звернута на кінетичні, релаксаційні та оптичні методи визначення енергії йонізації дефектів. Підкреслено особливості використання відзначених експериментальних методів та отриманих на їх основі результатів. |
URI: | http://hdl.handle.net/123456789/4196 |
Appears in Collections: | Статті та тези (ФТФ) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1202-29.pdf | 302.51 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.