DSpace JSPUI
DSpace зберігає і дозволяє легкий і відкритий доступ до всіх видів цифрового контенту, включаючи текст, зображення, анімовані зображення, MPEG і набори даних
Дізнатися більше
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://hdl.handle.net/123456789/5501| Назва: | Features Potential Measurements in Submicron High Integral Circuits Structures Using Electro-Optical Effect in Liquid Crystals |
| Інші назви: | Особливості вимірювання потенціалів в субмікронних структурах ВІС з використанням електрооптичного ефекту в рідких кристалах |
| Автори: | Novosyadlyj, S. Ivasuyk, R. Kotyk, M. |
| Ключові слова: | liquid crystals highly integrated circuit automated design system nematic liquid crystals twisteffect |
| Дата публікації: | 2017 |
| Видавництво: | ФІЗИКА І ХІМІЯ ТВЕРДОГО ТІЛА |
| Бібліографічний опис: | Kotyk M, Features Potential Measurements in Submicron High Integral Circuits Structures Using Electro-Optical Effect in Liquid Crystals, S. Novosyadlyj, R. Ivasuyk, M. Kotyk,/ PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDSTATE – 2017, - V. 18, № 3 (2017) P. 376-381 |
| Короткий огляд (реферат): | The quantitative values of electric potentials in the elements of submicron structures High Integral Circuits in the operating mode can be experimentally determined using electro-optic effect in nematics liquid crystal. This method relates to methods of diagnosing electronic structures of High Integral Circuits using Technical System and relates to the technology of Automated Design System and High Integral Circuits. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://hdl.handle.net/123456789/5501 |
| ISSN: | 1729-4428 |
| Розташовується у зібраннях: | Статті та тези (ФТФ) |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2283-6479-1-PB.pdf | 1.24 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.