Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/607
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorНовосядлий, Степан Петрович-
dc.contributor.authorГрига, Володимир Михайлович-
dc.contributor.authorКуриш, І. І.-
dc.contributor.authorМельник, М. І.-
dc.date.accessioned2019-10-08T08:25:44Z-
dc.date.available2019-10-08T08:25:44Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationНовосядлий С. П. Термопольова стабілізація порогової напруги польових транзисторів субмікронної технології ВІС / С. П. Новосядлий, В. М. Грига, І. І. Куриш, М. І. Мельник // Фізика і хімія твердого тіла. - 2018. - Т. 19. - № 4. - С. 352-357.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/607-
dc.description.abstractНа основі аналізу об’ємної відповідності фаз в діючій затворній системі Si-SiO2 показана можливість отримання від’ємного заряду в затворній системі субмікронних ВІС. Такий технологічний метод експериментально провірений при низькотемпературному оксидуванні кремнію, на що отримано патент на винахід. Дослідженнями встановлено, що на величину заряду на міжфазній межі можна суттєво впливати шляхом введення в окислювальну атмосферу галогеномістних сполук.uk_UA
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.subjectтранзисториuk_UA
dc.subjectсубмікронна технологіяuk_UA
dc.subjectстабілізаціяuk_UA
dc.titleТермопольова стабілізація порогової напруги польових транзисторів субмікронної технології ВІСuk_UA
dc.title.alternativeThermal Field Stabilization of the Threshold Voltage of the Field Transistors of the Submicron Technology of the LSIuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Розташовується у зібраннях:Т.19 №4

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
3381-10042-1-PB.pdf556.23 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.