Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/7072
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorГорічок, Ігор Володимирович-
dc.contributor.authorЖуковскі, Павел-
dc.contributor.authorПрокопів, Володимир Васильович-
dc.contributor.authorФреїк, Дмитро Михайлович-
dc.contributor.authorВуйцик, В.-
dc.date.accessioned2020-05-10T16:42:28Z-
dc.date.available2020-05-10T16:42:28Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.citationФізика і технологія тонких плівок та наносистем. Матеріали ХIІ Міжнародної конференції: У 2 т. – Т. 2. / За заг. ред. заслуженого діяча науки і техніки України, д.х.н., проф. Фреїка Д.М. – Івано-Франківськ: Видавництво «Плай» ЦІТ Прикарпатського національного університету імені Василя Стефаника, 2009. С. 148-150.uk_UA
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/7072-
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.titleІнженерія точкових дефектів у кристалах кадмій телуридуuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
Розташовується у зібраннях:Статті та тези (ФТФ)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Тези12_PRK_2.pdf112.77 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.