Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://hdl.handle.net/123456789/7244
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorФреїк, Дмитро Михайлович-
dc.contributor.authorГалущак, Мар'ян Олексійович-
dc.contributor.authorТерлецький, Андрій Іванович-
dc.contributor.authorЗапухляк, Руслан Ігорович-
dc.contributor.authorДикун, Наталія-
dc.contributor.authorТкачук, Андрій Іванович-
dc.date.accessioned2020-05-17T13:18:30Z-
dc.date.available2020-05-17T13:18:30Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationФреїк Д. М. Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів / Д. М. Фреїк, М. О. Галущак, А. І. Терлецький, Р. І. Запухляк, Н. І. Дикун, А. І. Ткачук // Методи та прилади контролю якості. – 2010. – №25. – с. 92-96.uk_UA
dc.identifier.issn1993-9981-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/123456789/7244-
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherМетоди та прилади контролю якості (журнал)uk_UA
dc.subjectтеплопровідністьuk_UA
dc.subjectтепловий потікuk_UA
dc.subjectвимірювальна коміркаuk_UA
dc.subjectтеплоелектрорушійна силаuk_UA
dc.subjectтеплоелектричні параметри напівпровідниківuk_UA
dc.titleСтаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалівuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Розташовується у зібраннях:Статті та тези (ФТФ)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Методи та прилади контролю якості-2010.pdf228.09 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.